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| 葉臘石微結(jié)構(gòu)及其晶體結(jié)構(gòu)缺陷的高分辨透射電鏡分析 |
| 來源:礦物學(xué)報 更新時間:2013-06-22 10:38:38 瀏覽次數(shù): |
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浙江工業(yè)大學(xué)嚴(yán)俊等采用場發(fā)射掃描電鏡(FE-SEM)、高分辨透射電鏡(HRTEM)結(jié)合選區(qū)電子衍射(SAED)、X射線粉晶衍射(XRD)及X射線熒光光譜(XRF)等對浙江青田葉臘石的微結(jié)構(gòu)特征進行較系統(tǒng)的研究。結(jié)果表明:①粉晶X射線衍射證實青田葉臘石具有典型的單斜晶系特征,該結(jié)論與葉臘石粉體選區(qū)電子衍射結(jié)果吻合,且其伴生礦為石英。②葉臘石微晶體呈"復(fù)式板片"構(gòu)型,且"復(fù)式"板片中薄片厚度約為8±2 nm。③在高能電子束輻照下,葉臘石礦物顆粒形貌及晶格結(jié)構(gòu)發(fā)生明顯的改變,且由此產(chǎn)生晶格膨脹,并最終形成非晶態(tài)。
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