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| 熔融制樣-X射線熒光光譜法測定重晶石中的主要組分 |
| 來源:光譜實驗室 更新時間:2013-06-22 13:10:10 瀏覽次數(shù): |
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華南理工大學(xué)曾小平等采用熔融片制樣法,X射線熒光光譜儀(XRF)同時測定防輻射用重晶石中氧化鋇和二氧化硅等主次組分的含量,用基本參數(shù)法校正基體效應(yīng),并進(jìn)行了方法的精密度和準(zhǔn)確度試驗,各組分相對標(biāo)準(zhǔn)偏差RSD(n=10)均小于6.0%。用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進(jìn)行驗證,測量值與之基本一致。
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