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性能測(cè)試
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常用的粒度測(cè)試方法及其優(yōu)缺點(diǎn)
來源：    更新時(shí)間：2013-05-26 23:36:47    瀏覽次數(shù)：
 
 
粒度測(cè)試方法 優(yōu)    點(diǎn) 缺    點(diǎn)
篩分法 簡單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品 不能用于40μm以下的樣品，結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大
顯微鏡（圖像）法 簡單、直觀、可進(jìn)行形貌分析，適合分布窄（最大和最小粒徑的比值小于10：1）的樣品 無法分析分布范圍寬的樣品，無法分析小于1微米的樣品
 
沉降法 操作簡便，儀器可以連續(xù)運(yùn)行，價(jià)格低，準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好，測(cè)試范圍較大 測(cè)試時(shí)間較長，操作比較復(fù)雜
 
庫爾特（電阻）法 操作簡便，可測(cè)顆?？倲?shù)，等效概念明確，速度快，準(zhǔn)確性好 適合分布范圍較窄的樣品
 
激光衍射/散射法 操作簡便，測(cè)試速度快，測(cè)試范圍大，重復(fù)性和準(zhǔn)確性好，可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量 結(jié)果受分布模型影響較大，儀器造價(jià)較高
 
電鏡法 適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高 樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴
超聲波法 可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量 分辨率較低
透氣法 儀器價(jià)格低，不用對(duì)樣品進(jìn)行分散，可測(cè)磁性材料粉體 只能得到平均粒度值，不能測(cè)粒度分布
 
 
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