|
| |
| |
| 一種碳化硅微粉粒度檢測方法 |
| 來源：中國粉體技術(shù)網(wǎng) 更新時(shí)間：2013-12-10 09:27:17 瀏覽次數(shù)： |
 |
專利名稱： 一種碳化硅微粉粒度檢測方法
專利持有人：平頂山易成新材料股份有限公司
所屬行業(yè)：
內(nèi)容摘要：本發(fā)明提供的碳化硅微粉粒度的檢測方法融合了電阻法與激光法兩種方法，配合針對(duì)不同型號(hào)的樣品選擇性的采用相對(duì)應(yīng)的分散方法，從而使碳化硅顆粒分散均勻、良好，進(jìn)而使粒度檢測數(shù)據(jù)更為科學(xué)、真實(shí)，精確度高。 |
|
|
|
發(fā)明人：曲麗偉，梁貴振，夏軍，楊正宏，葉小迷，張向峰，蘇燕，張強(qiáng)
申請(qǐng)人：平頂山易成新材料股份有限公司
申請(qǐng)?zhí)枺?/strong>201210515224.7
一種碳化硅微粉粒度檢測方法，包括如下步驟：一、用光學(xué)顯微鏡觀察樣品，判斷樣品的型號(hào)，推斷樣品粒度；二、當(dāng)碳化硅微粉樣品的平均粒度D50小于5.5um時(shí)，采用超聲細(xì)胞粉碎機(jī)進(jìn)行分散，分散完畢，采用Malvern激光粒度儀進(jìn)行粒度檢測；三、當(dāng)碳化硅微粉樣品的平均粒度D50大于5.5um時(shí)，采用超聲清洗器進(jìn)行分散，分散完畢，采用COULTER顆粒計(jì)數(shù)儀進(jìn)行粒度檢測。本發(fā)明提供的碳化硅微粉粒度的檢測方法融合了電阻法與激光法兩種方法，配合針對(duì)不同型號(hào)的樣品選擇性的采用相對(duì)應(yīng)的分散方法，從而使碳化硅顆粒分散均勻、良好，進(jìn)而使粒度檢測數(shù)據(jù)更為科學(xué)、真實(shí)，精確度高。
http://www.huaianlvs.cn/uploadfile/2013/1210/20131210092940261.pdf
|
|
|
|
|
| |
|
| |
|
|
|
|
|
|
