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性能測試
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馬爾文在Pittcon 2014上推出新型納米顆粒跟蹤分析系統(tǒng)
來源：中國粉體技術(shù)網(wǎng)    更新時間：2014-03-06 08:49:27    瀏覽次數(shù)：
 
     （中國粉體技術(shù)網(wǎng)/班建偉）在Pittcon 2014展會上，馬爾文儀器展出一款全新產(chǎn)品，是工業(yè)界和學(xué)術(shù)界的綜合分析解決方案——Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統(tǒng)。Pittcon 2014是馬爾文儀器自2013年9月收購納米科技公司Nano Sight后第一次在美國參展，為納米顆粒跟蹤分析系統(tǒng)增設(shè)納米顆粒大小和計數(shù)功能。
  
                                           Nano Sight納米顆粒跟蹤分析(NTA)系統(tǒng)將在Pittcon 2014展會上展出
　　 NTA系統(tǒng)將與納米激光粒度儀和全新Viscotek SEC-MALS 20多角度光散射GPC/SEC檢測器檢測器共同展出。另外在馬爾文展位上，Mastersizer 3000超高速智能粒度分析儀將采用全新軟件。它能模仿其他激光衍射系統(tǒng)操作方式，而使得測量數(shù)據(jù)的任何可見差異得到合理解釋，因此儀器的升級將變得不再復(fù)雜?，F(xiàn)場分析能證實測量中的穩(wěn)定性，并配有自定義報告能輕松滿足行業(yè)和公司標準。Mastersizer軟件現(xiàn)能提供8種語言，滿足世界各地的用戶完全無礙使用。
 
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馬爾文在Pittcon 2014上推出新型納米顆粒跟蹤分析系統(tǒng)2014-03-06
 
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