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超細粉體粒度檢測的7大方法!
來源:中國粉體技術(shù)網(wǎng)    更新時間:2019-07-24 17:14:40    瀏覽次數(shù):
 
  不同的應(yīng)用領(lǐng)域,對超細粉體特性的要求各不相同,在所有反映超細粉體特性的指標中,粒度分布是所有應(yīng)用領(lǐng)域中最受關(guān)注的一項指標,因此,客觀真實地反映超細粉體的粒度分布是至關(guān)重要的,主要表現(xiàn)在以下兩個方面:
  
  在超細粉體加工生產(chǎn)過程中,粉體粒度檢測是控制產(chǎn)品生產(chǎn)指標和調(diào)整優(yōu)化生產(chǎn)工藝的主要依據(jù)。
  對于超細粉體產(chǎn)品,其顆粒尺寸大小和粒度分布直接影響其特性、價格和用途,對于納米材料,其顆粒大小和形狀對材料的性能起著決定性的作用,因此粉體粒度檢測必不可少。
  
  目前,用于超細粉體粒度表征方法主要有以下幾種:
  
  1、激光衍射散射法
  激光衍射散射法中應(yīng)用最多的是激光衍射粒度儀,該儀器在假定粉體顆粒為球形、單分散條件基礎(chǔ)上,利用光的散射現(xiàn)象測量顆粒大小,顆粒尺寸越大,散射角越??;顆粒尺寸越小,散射角越大。

 
超細粉體粒度檢測的7大方法!
  
  優(yōu)點是:測量范圍廣、結(jié)果精確度高、測量時間短、操作方便、能得到樣品體積的分布。缺點是:對于檢測器的要求高、不同儀器檢測結(jié)果對比性差、分辨率較低、不適于測量粒度分布范圍很窄的樣品。采用該法測量粒徑時,前提條件是首先要獲得分散度好的懸浮液,否則給出錯誤的結(jié)果。
  
  2、電鏡觀察法
  
  電鏡主要分為掃描電鏡、透射電鏡、掃描隧道電鏡等。通過電鏡可直接觀察粒子平均直徑或粒徑的分布,是一種顆粒度觀察測定的絕對方法,因而具有可靠性和直觀性。

 
超細粉體粒度檢測的7大方法!
  
  特點:檢測過程中要求顆粒處于良好的分散狀態(tài);要獲得準確的結(jié)果,需要大量的電鏡圖片進行統(tǒng)計,否則有可能導(dǎo)致觀察到的粉體的粒子分布范圍并不代表整體粉體的粒徑范圍。
  
  3、沉降法
  
  沉降法是通過顆粒在液體中沉降速度來測量粒度分布的方法,主要有重力沉降式和離心沉降式兩種沉降粒度分析方式,測量范圍一般為44μm以上。
  
  特點:由于實際顆粒的形狀絕大多數(shù)都是非球形的,不可能用一個數(shù)值來表示它的大小,因此和其他類型的粒度儀器一樣,沉降式粒度儀所測的粒徑也是一種等效粒徑;用于沉降法的儀器造價雖然較低,但與激光粒度儀相比,其測量時間長、速度慢,不利于重復(fù)分析,測量結(jié)果往往手操作手法及環(huán)境溫度影響,對于2μm以下的顆粒會因布朗運動導(dǎo)致測量結(jié)果偏小。
  
  4、電阻法
  
  又叫庫爾特法,適合于測量粒度均勻(即粒度分布范圍窄)的粉體樣品,也適用于測量水中稀少的固體顆粒的大小和個數(shù),所測的粒徑為等效電阻徑,測試所用的介質(zhì)通常是導(dǎo)電性能較好的生理鹽水。

 
超細粉體粒度檢測的7大方法!
  
  特點:與其他粒度測定方法相比,庫爾特法分辨率最高,而且測量時間短、重復(fù)性和代表性較好、操作簡便誤差較??;缺點是:動態(tài)范圍較小、易被顆粒堵塞使測量中止、測量下限不夠小,一般測量下限為1μm。
  
  5、比表面積法
  在材料細分散的制備中,由于顆粒尺寸越來越小,形成了越來越多顆粒表面,引起表面能的巨大變化,用比表面積的概念把顆粒表面積與顆粒尺寸聯(lián)系起來,即:體積比表面積=顆粒總表面積/顆??傮w積;質(zhì)量比表面積=顆粒總表面積/顆??傎|(zhì)量。

 
超細粉體粒度檢測的7大方法!
  
  在實際應(yīng)用中,粉體的比表面積可以通過浸濕熱法、吸附法以及透過法幾種方法來測量,采取哪種方法要根據(jù)測量要求和物料、設(shè)備等條件決定。
  
  該方法需要高真空和預(yù)先嚴格脫氣處理,控制測定精度的因素主要為顆粒的形狀及缺陷,如氣孔、裂縫等。這些因素造成測量結(jié)果的負偏差。
  
  6、X射線衍射線寬法
  X射線衍射線寬法是測定顆粒晶粒度的最好方法。當顆粒為單晶時,該法測得的是顆粒度。顆粒為多晶時,該法測得的是組成單個顆粒的單個晶粒的平均晶粒度。
  
  這種測量方法適用于晶態(tài)的納米粒子晶粒度的測量。實驗表明晶粒度小于等于50nm時,測量值與實際值相近,反之,測量值往往小于實際值。
  
  7、團聚態(tài)的表征
  團聚體的性質(zhì)可分為團聚體的尺寸、形狀、分布、含量;團聚體的氣孔率、氣孔尺寸及分布;團聚體的密度、內(nèi)部顯微結(jié)構(gòu)、強度;團聚體內(nèi)一次顆粒之間的鍵合性質(zhì)等。目前常用的團聚體表征方法主要有顯微結(jié)構(gòu)觀察法、素胚密度-壓力法以及壓汞法等
  
  除以上介紹的粒徑測量方法外,還有一些測量方法,例如,X射線小角散射法、拉曼散射法、穆斯保爾譜、原子力顯微技術(shù)(AFM)和掃描隧道電子顯微鏡等均能測得粒徑。
  
  最后強調(diào)一點,超細粉體粒度真實測定的前提是測量前將粉體充分分散,使粉體顆粒不存在團聚現(xiàn)象,測量得到的中位值D50趨于最小且重復(fù)測試結(jié)果不變。



時間:2019年3-5日,地點:江蘇 昆山


  培訓內(nèi)容:

  (一)粉體的超細粉碎技術(shù)與設(shè)備   
  1. 超細粉碎技術(shù)原理
  2. 超細粉碎技術(shù)裝備發(fā)展現(xiàn)狀與發(fā)展趨勢
  3. 超細粉碎設(shè)備種類及其應(yīng)用
  4. 超細粉碎設(shè)備選型方法
  5. 超細粉碎工藝設(shè)計方法
  6. 超細粉碎常見問題剖析與解決方案
  7. 交流互動

  (二)粉體的精細分級技術(shù)與設(shè)備
  1. 精細分級技術(shù)原理
  2. 精細分級技術(shù)裝備發(fā)展現(xiàn)狀與發(fā)展趨勢
  3. 精細分級設(shè)備種類及其應(yīng)用
  4. 精細分級設(shè)備選型方法
  5. 精細分級工藝設(shè)計方法
  6. 精細分級常見問題剖析與解決方案
  7. 交流互動

 ?。ㄈ┓垠w超細粉碎和分級過程中的性能表征與應(yīng)用
  1. 粉體各項性能指標的表征
  2. 超細粉碎和分級對粉體結(jié)構(gòu)及性能的影響
  3. 超細粉碎和分級過程中粉體的理化特性控制及應(yīng)用
  4. 交流互動

  (四)功能粉體的超細粉碎和分級
  1. 熱敏性物料的超細粉碎和分級設(shè)備與應(yīng)用
  2. 塑性物料的超細粉碎和分級設(shè)備與應(yīng)用
  3. 高純粉體材料的超細粉碎和分級設(shè)備與應(yīng)用
  4. 針狀粉體的超細粉碎和分級設(shè)備與應(yīng)用

  (五)參觀考察
  參觀江蘇密友粉體新裝備制造有限公司

 

報名咨詢:馮文祥 18301216601(微信同號)

2019年粉體表面改性技術(shù)高級研修班
 

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