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技術(shù)進(jìn)展
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【技術(shù)】高純石英中流體包裹體的活化與分離技術(shù)
來(lái)源:中國(guó)粉體技術(shù)網(wǎng)    更新時(shí)間:2023-06-09 14:55:14    瀏覽次數(shù):
 
  流體包裹體,一種來(lái)源于原生成礦流體,或是在后期地質(zhì)作用中被石英捕獲的流體,是石英中典型的流體雜質(zhì);特別是一些被包裹于石英晶體中的微小氣、液包裹體,很難有效地被常規(guī)的選礦技術(shù)分離。
  
  1、焙燒/煅燒
  
  焙燒/煅燒是目前通行的活化與去除流體包裹體的主流方法。一般而言,700℃被認(rèn)為是大多數(shù)流體包裹體的爆裂溫度,這是因?yàn)橐酝臒岜?聲學(xué)測(cè)試研究表明:幾乎所有的流體包裹體在700℃時(shí)均因升溫、膨脹而熱爆裂。
  
  熱爆裂-聲學(xué)測(cè)試法是測(cè)量不透明礦物中流體包裹體的爆裂溫度的一種重要技術(shù),該方法利用錄音機(jī)記錄不同溫度下流體包裹體的爆裂頻率,以確定活化流體雜質(zhì)的臨界溫度。然而,以往的研究表明,石英在573℃左右的相變作用可以明顯地觸發(fā)流體包裹體的爆裂。因此,在600~700℃焙燒/煅燒可以有效地去除石英顆粒表層的流體包裹體,但只能激活石英顆粒內(nèi)部的流體包裹體,使這部分流體雜質(zhì)僅擴(kuò)散到依舊封閉的石英裂縫中,從而實(shí)現(xiàn)再平衡。
  
  因此,石英中流體包裹體的活化溫度可以通過(guò)熱爆裂-聲學(xué)測(cè)試法來(lái)獲得,但儀器記錄的卻不是流體包裹體被釋放的臨界溫度。簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),石英主礦物在600~700℃煅燒時(shí),聲學(xué)儀器可以記錄到熱爆裂聲音,但并不意味著在后續(xù)的石英洗滌過(guò)程中,流體包裹體包含NaCl等雜質(zhì)能夠被有效分離。
  
  研究結(jié)果表明,在900℃而不是700℃煅燒能有效地去除石英中的流體包裹體。在室溫至700℃的加熱過(guò)程中,石英相變會(huì)引起流體包裹體的減少;煅燒過(guò)程中由于α石英向β-石英轉(zhuǎn)變而造成的石英密度損失以微裂紋的形式體現(xiàn),深層流體包裹體在β-石英穩(wěn)定場(chǎng)中重新平衡,而沒(méi)有從石英中去除。
  
  熱爆裂-水浸-電感耦合等離子光譜結(jié)合技術(shù),即利用超純水浸出不同溫度煅燒后的石英砂,然后用ICP(OES或MS)技術(shù)對(duì)浸出液進(jìn)行分析,以計(jì)算流體包裹體中典型元素(Na、Ca、Mg等)的分離效率;根據(jù)較佳分離效率,得到900℃的較佳煅燒溫度,并能反映流體包裹體的實(shí)際釋放溫度。因此,通過(guò)熱爆裂-水浸-電感耦合等離子光譜結(jié)合技術(shù)可以準(zhǔn)確地確定陽(yáng)離子含量和臨界溫度。
  
  在870℃左右,β-石英和β-鱗石英之間的相變對(duì)去除微米級(jí)和納米級(jí)流體包裹體具有更加重要意義。因?yàn)?beta;-石英向β-鱗石英轉(zhuǎn)變時(shí),因微裂紋引起的石英密度變化更大,在相變過(guò)程中釋放流體包裹體的活化能大大降低,這也是900℃煅燒能有效地去除石英中的流體包裹體的根本原因。此外,微小的流體包裹體獲得了足夠的能量來(lái)打破Si-O-Si鍵壁壘。更重要的是,通過(guò)控制煅燒溫度,在β-石英和β-鱗石英之間的實(shí)現(xiàn)重復(fù)相變,可以促進(jìn)微米級(jí)和納米級(jí)流體包裹體的一系列熱爆裂。對(duì)于一些聚集性的流體包裹體,高溫煅燒有助于形成更多的遷移通道;通過(guò)化學(xué)浸出等手段進(jìn)一步去除遷移通道中殘留的流體雜質(zhì)。
  
  2、微波輔助加溫爆裂技術(shù)
  微波輔助加溫爆裂技術(shù)也是近年來(lái)興起的新型流體包裹體分離技術(shù)。劉泰榮首次將微波輔助技術(shù)應(yīng)用于石英砂的流體包裹體分離,其將微波作為“體熱源”,研究了石英砂在微波場(chǎng)中加熱至不同溫度時(shí)對(duì)氣液包裹體的去除影響,建立了氣液包裹體一元純水體系熱爆裂模型;石英砂在微波場(chǎng)中加熱至600℃、900℃時(shí),樣品中的氣液包裹體含量急劇下降;最后采用微波后再酸洗的工藝進(jìn)一步去除石英砂中氣液包裹體及主要的雜質(zhì)離子。
  
  微波輔助加溫爆裂技術(shù)實(shí)質(zhì)上是改變了體熱源,利用微波選擇性地加熱流體包裹體,實(shí)現(xiàn)流體包裹體的爆裂。需要注意的是,微波輔助加溫對(duì)Si-O-Si鍵的削弱有限,對(duì)次生、假次生流體包裹體的分離可能有效,對(duì)高品質(zhì)石英中微小原生包裹體的分離效果還需持續(xù)關(guān)注。
  
  3、破碎與磨礦工藝
  
  破碎與磨礦工藝也是暴露、去除流體包裹體的常見(jiàn)方法。Yuan等認(rèn)為經(jīng)破碎與磨礦后的石英砂表面充分暴露有各類(lèi)流體包裹體坑洞,具有較高流體包裹體豐度的石英更有可能與Fe3+充分結(jié)合;利用十二烷基磺酸鈉捕收從而實(shí)現(xiàn)較高水平的浮選回收率;研究表明,石英表面與Fe3+之間的吸附是一個(gè)化學(xué)吸附過(guò)程,這與可能與石英砂表面來(lái)源于流體包裹體的Si-OH有關(guān)。
  
  破碎與磨礦工藝能夠一定程度上選擇性暴露次生、假次生流體包裹體,利用浮選直接分離整個(gè)石英顆粒,或利用水/酸浸出分離表面雜質(zhì)。但這些工藝對(duì)高品質(zhì)石英中微小原生包裹體的選擇性低。
  
  資料來(lái)源:《林敏,徐順秋,劉子源,魏炎,劉斌,孟雨,邱航,雷紹民.高純石英(SiO2)評(píng)述(三):流體包裹體的分析、活化與分離[J].礦產(chǎn)綜合利用,2022(06):26-29》,由【粉體技術(shù)網(wǎng)】編輯整理,轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處!
  
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