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性能測(cè)試
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【干貨】如何利用XRD對(duì)礦物進(jìn)行定性分析?
來(lái)源:中國(guó)粉體技術(shù)網(wǎng)    更新時(shí)間:2016-05-30 10:32:34    瀏覽次數(shù):
 
1.XRD的基本原理

當(dāng)一束單色 X射線照射到晶體上時(shí),晶體中原子周圍的電子受X 射線周期變化的電
場(chǎng)作用而振動(dòng),從而使每個(gè)電子都變?yōu)榘l(fā)射球面電磁波的次生波源。所發(fā)射球面波的頻率與入射的 X 射線相一致。

基于晶體結(jié)構(gòu)的周期性,晶體中各個(gè)原子(原子上的電子)的散射波可相互干涉而疊加,稱之為相干散射或衍射。X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象,實(shí)質(zhì)上是大量原子散射波相互干涉的結(jié)果。每種晶體所產(chǎn)生的衍射花樣都反映出晶體內(nèi)部的原子分布規(guī)律。

    根據(jù)上述原理,某晶體的衍射花樣的特征最主要的是兩個(gè):1) 衍射線在空間的分布規(guī)律;2) 衍射線束的強(qiáng)度。其中,衍射線的分布規(guī)律由晶胞大小,形狀和位向決定,衍射線強(qiáng)度則取決于原子的品種和它們?cè)诰О奈恢?/span>。因此,不同晶體具備不同的衍射圖譜。

 

2.布拉格方程

 

    布拉格方程所反映的是衍射線方向與晶體結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系。對(duì)于某一特定晶體而言,只有滿足布拉格方程的入射線角度才能夠產(chǎn)生干涉增強(qiáng),才會(huì)表現(xiàn)出衍射條紋。這是XRD譜圖的根本意義。

    備注:對(duì)于不同晶系,晶面間距d與晶胞參數(shù)(a, b, c, α, β, γ)之間存在確定的對(duì)應(yīng)關(guān)系,通過(guò)XRD譜圖知道θ和hkl之后,可以通過(guò)布拉格方程等推算出晶胞參數(shù)(本期暫時(shí)不講,后面會(huì)詳細(xì)說(shuō)明)。

 

3. Scherrer公式 

    基本原理:當(dāng)X 射線入射到小晶體時(shí),其衍射線條將變得彌散而寬化,晶體的晶粒越小, X射線衍射譜帶的寬化程度就越大。Sherrer公式描述的就是晶粒尺寸與衍射峰半峰寬之間的關(guān)系。


4. XRD物相分析 

      基本原理:每一種晶體物質(zhì)和它的衍射花樣都是一一對(duì)應(yīng)的,不可能有兩種晶體給出完全相同的衍射花樣。

       隨著XRD標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)的日益完善,XRD物相分析變得越來(lái)越簡(jiǎn)單,目前最常見(jiàn)的操作方式是將樣品的XRD譜圖與標(biāo)準(zhǔn)譜圖進(jìn)行對(duì)比來(lái)確定樣品的物相組成。XRD標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫(kù)包括JCPDS(即PDF卡片),ICSD,CCDC等,分析XRD譜圖的軟件包括Jade,Xpert Highscore等,這里推薦使用Jade。

       Jade軟件中,專門有一個(gè)功能叫Identify。里面的Search/Match功能可以將樣品的衍射圖樣與標(biāo)準(zhǔn)譜圖進(jìn)行對(duì)比,給出與所測(cè)樣品相吻合的標(biāo)準(zhǔn)譜圖信息。下圖所示,是TiO2樣品XRD譜圖在Jade軟件中的Search/Match操作。 

       如上圖所示,在JadeSearch/Match功能中會(huì)給出標(biāo)準(zhǔn)譜圖的衍射條紋,物相名稱,化學(xué)式,匹配程度(FOM),PDF卡片編號(hào),點(diǎn)群,晶胞參數(shù),ICSD編號(hào)等。

其中,FOM為匹配率的倒數(shù),值越小,匹配越好。 

    雙擊選中的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)卡片,會(huì)彈出來(lái)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)詳細(xì)的references和衍射數(shù)據(jù)值,如下圖所示,該數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出使用。圖中所示比較重要的數(shù)據(jù)包括晶面間距d, 晶面指數(shù)hkl以及標(biāo)準(zhǔn)譜圖衍射峰位置和相對(duì)強(qiáng)度等

 


5. 如何在Jade中采用Sherrer公式計(jì)算晶粒尺寸?

    Jade軟件中直接集成了采用半峰寬來(lái)計(jì)算樣品的晶粒尺寸這一功能,比較方便。要想使用該功能,首先必須在Edit-->Preferences-->Report里面勾上,Estimate Crystallite Size from FWHM Values.如下圖所示:

       勾上之后就可以很方便的進(jìn)行粒徑分析了,如下圖所示,采用EditToolbar中的積分按鈕,在主峰下拉取基線,會(huì)自動(dòng)彈出窗口,里面包含晶粒尺寸信息。注意,這里算出來(lái)的是平均尺寸,且使用范圍為3-200 nm.


本文轉(zhuǎn)載自微信公眾號(hào):研之成理

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